Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Kennedy J., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C., Leveneur J.
Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Kennedy J., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C., Leveneur J.
Li M., Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Knibbe R., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, YDyBCO, coated conductors, tapes, nanodoping, irradiation effects, ion irradiation, pinning, anisotropy, critical current, angular dependence, microstructure, experimental results
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, pinning, critical current, anisotropy, angular dependence, temperature dependence, experimental results
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Civale L., Kwok W., Kayani A., Leroux M., Eley S., Niraula P.M., Sheng H.
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Li Q., Solovyov V., Kwok W., Ozaki T., Kayani A., Koshelev A.E., Leroux M., Eley S., Kihlstrom K.
Rupich M.W., Aytug T., Leonard K.J., Zhang Y., Gapud A.A., Khan A., III F.A., Greenwood N.T., Alexander J.A.
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Kayani A., Leroux M., Eley S., Niraula P.M., Kwok W.-K., Kihlstrom K.J., Holleis S., Sheng H.P.
Rupich M.W., Thieme C.L., Li X., Fleshler S., Sathyamurthy S., DeMoranville K., Tucker D., Podtburg E., Jr J.G., Whitman L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, critical caracteristics, status, critical current, uniformity, ac losses, Jc/B curves, coils, mechanical properties, winding tension
Miller D.J., Rupich M.W., Li X., Malozemoff A.P., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Kwok W.K., Jia Y., Kayani A., Leroux M., Wen J.G., Ayala-Valenzuela O.
Ключевые слова: patents, HTS, coated conductors, cap layers, solution techniques, YBCO, fabrication
Rupich M.W., Thieme C., Li X., Paranthaman M.P., Sathyamurthy S., Kim K., List F.A., Zhang Y., Qiu X.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, RABITS process, buffer layers, MOD process, substrate Ni-W, texture, critical caracteristics, Jc/B curves, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.